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高さと幅を、ライン光で高速・高精度測定。
- リニアリティ ±0.1% of F.S.
- サンプリング周期 0.5ms（最速）
- 2次元測定で圧倒的低コスト
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入出力回路図（NPN出力タイプ）
外形寸法図
本体
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