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＜生産終了機種＞ >>代替機種
サンプリング周期100μs、
拡散反射型
2台のセンサの測定結果を演算することで、黒ゴムに振れがあっても厚みを測定可能です。
正反射型
ハードディスクが高速で回転しても、サンプリング周期:100μsなので1秒間に1万回の測定が可能。
拡散反射型
2台のセンサの測定結果を演算することで、基板の傾きを測定可能です。また、2台を別々に測定することも可能。
正反射型
正反射型なら、透明度が高いガラス基板も安定して測定が可能。
拡散反射型
サンプリング周期100μsの高速測定でブレーキディスクの厚み測定が可能です。レーザタイプなので段取り替えが簡単です。
正反射型
正反射型は繰返精度が高いので、高精度にノズル制御が可能。
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