電子部品・半導体業界 テーマ別センサ活用提案集

限定反射型マッピングファイバセンサNF-DC03なら、ウェハ端面を安定して検出が可能。
シリコンだけでなく、ガラスなどの透明体も検出できます。

・限定反射型なので、シリコンやガラスなど材質を選ばずに検出が可能です。

・IO-Linkをはじめとして、CC-LinkやEtherCAT、EtherNet/IPなどの各種通信対応機器をラインアップ。
安定検出だけでなく、通信を活用したデータ収集などのご提案が可能です。

・半導体洗浄装置での実績も豊富。これまでの知見を活かし、お客様へご提案させて頂きます。
※0.5mm厚まで検出が可能です。