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高解像度サーモグラフィ
Xi400シリーズ

堅牢でコンパクトな
多機能サーモグラフィ

  • 高解像度サーモグラフィ(382×288pixel)
  • PC操作による電動フォーカス機能
  • 微小点測定が可能な挟角タイプとマイクロスコープタイプ
  • 解析を柔軟にサポートする独自の多機能ソフトウェア
    (日本語対応)
注意

Xi400シリーズは、輸出貿易管理令別表第1 10項(4),10項(2)に該当しております。 詳細は当社までお問い合わせください。また個別に輸出関連書類の発行をご希望の際は、こちらからお申込みください。

  • 高解像度サーモグラフィ(382×288pixel)

    Xi400シリーズは解像度が382×288pixelと高いため、距離を離しても細かく温度測定が可能なサーモグラフィです。
    視野内で測定エリアを自由に設定でき、柔軟かつ多彩な測定が可能です。

PC操作による電動フォーカス機能

  • Xi400はソフトウェア(PIX Connect)上で、電動フォーカス調整が可能です。
    遠隔でフォーカス調整が可能なため装置内に設置後も運用しやすくなっています。

  • 微小点測定が可能な挟角タイプとマイクロスコープタイプ

    Xi400は5種類(挟角・標準・広角・超広角・マイクロスコープ)のレンズタイプがあるので、設置距離やワークサイズに応じて選定いただけます。

  • 挟角タイプ:最小□0.17㎜の温度測定が可能

    Xi400は高感度受光素子の採用により、一般的な非接触温度計に比べ微小点での温度測定が可能。
    ワークや熱源から離れた場所からでも微小点で測定できます。さらに高解像度なので電子部品などの小さいワークの温度測定も高精度に行えます。

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