ログイン
新規登録
お問い合わせ
製品情報
工程改善集
特集
技術情報
サービス・サポート
会社情報
採用情報
GLOBAL SITE
ログイン
カート
ダウンロード
お届け
HOME
工程改善集
厚み測定
インクジェット塗布膜の計測
HOME
工程改善集
半導体
インクジェット塗布膜の計測
HOME
工程改善集
変位センサ
インクジェット塗布膜の計測
厚み測定 / 半導体
厚み測定
半導体
変位センサ
インクジェット塗布膜の計測
インクジェット塗布装置におけるガラス基板への塗布工程において、膜厚測定をレーザ変位センサCDX-30にて行います。
CDX-30なら、0.05μmの繰返精度で膜圧を測定可能。またサンプリング周期は最速で12.5μsと従来比8倍の高速化を達成しているので、タクトを大きく向上させることもできます。
CDX-30は、液晶配向膜や太陽電池分野での品質向上や省力化に貢献します。
使用製品
超高精度レーザ変位センサ
CDXシリーズ
詳しくはこちら
厚み測定
半導体
変位センサ
ファインセラミックス板の厚み測定
厚み測定
半導体
変位センサ
膜付ウェハ厚み測定
検索ページに戻る