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厚み測定 / 半導体
厚み測定
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膜付ウェハ厚み測定
レーザ変位センサCD5-L25で膜付ウェハの厚みを測定します。
変位センサコントロールユニットUQ1を使用すれば、三菱電機MELSEC-Qシリーズとアンプを介さずに接続可能。見やすく使いやすいユーザインターフェイスにより、ラダーやPLCの知識がなくても設定を短時間で行うことが可能です。
使用製品
高性能マルチレーザ変位センサ
CD5シリーズ
詳しくはこちら
使用製品
変位センサコントロールユニット
UQ1シリーズ
詳しくはこちら
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インクジェット塗布膜の計測
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