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従来の変位センサでは、受光量が最適レベルになるように光量制御を行っていました。これをライン状の幅広計測に応用した場合、ワークや背景の色ムラに対応するためには1回のサンプリングでは限界があり、複数回のサンプリングが必要でその分、処理時間が必要でした。そこで当社独自の光学系と独自アルゴリズム（特許出願中）によりワークや背景の色ムラに影響されることなく1回のサンプリングで測定を実現しました。
ライン状の投光ビームと三角測量の原理を用いて物体の高さ形状を1回のサンプリングで測定し、あらかじめ登録しておいたティーチング波形と測定結果を比較して物体の高さ形状の一致度を算出し、しきい値と比較することで良否を判定します。また、ズレ許容度を設定することで形状余裕度を変更でき、ばたつきにも対応できます。
ライン状の投光ビームと三角測量の原理を用いて物体の高さ形状を測定し、その高さ形状からエッジ情報を抽出して、エッジの個数をカウントすることで幅広測定エリア内の物体の数量をカウントし、予め登録しておいたしきい値との比較で、一致度判定が可能です。測定に高さ情報を用いることで物体の色の影響を受けずに複数個の同時カウントを実現しました。
本体には、暗い場所でもはっきり見えるLCDディスプレイを搭載。ワークの形状と設定ガイドの表示色の区別がはっきりわかり、小さなワークのシビアな設定でも画面を見ながら容易に作業が行えます。
従来のセンサはイメージセンサからのデータを一旦メモリに書き込み、そのデータを再度読み出して処理しています。SHPは、イメージセンサからのデータ転送と並列に特徴抽出・高さ・変換処理、各機能ごとの演算処理を平行して行うことで高速処理を実現しています。
オプテックス・エフエーのレーザ技術は、平行ライン投光でもリニアリティ±0.5％ of FSを実現。また、分解能もZ軸方向で50μmと微小なワークの誤差もしっかりと検出します。
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