光源からの投光は投光レンズを介し対象物に照射されます。対象物よりの反射光は受光レンズによって、一次元状で受光位置が特定できるPSDやCMOSといった受光素子上に集光されます。対象物の測定器からの距離位置の変化に伴い、一次元受光素子上の結像位置は距離と比例的に変化します。この一次元受光素子上の受光位置を解析し、距離を測定する方式を言います。

CMOS方式

Complementary metal Oxide Semi-conductorの略、一次元的に並列された非常に高分解能な画素により構成される受光素子を用い、各画素ごとに受光量を検出し、距離換算します。
採用製品：CD5シリーズ、CD33シリーズ、OD1000シリーズ等

PSD方式

Position Sensing Deviceの略、受光位置が、アナログ出力値AおよびBの演算により、アナログ的に検出できる受光素子を用いた距離測定方式。

投光光源のレーザ･ダイオードは連続的にAM変調を受けたレーザ光を投光します。投光された測定レーザはレンズより測定器外部に照射され、測定対象物によって反射され、レンズにより集光され受光部に受光されます。この間に、距離に応じたある一定時間が経過しますが、このことによって元の波と受光する波の間に位相差が発生します。物体が異なる距離で測定された場合、それに応じた異なる位相差が生じます。この位相差を演算することにより、距離を測定します。