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高さ・大きさ測定 / 半導体
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アニール深さの制御
レーザ変位センサCD5でSi基板を測定し、アニール深さを制御します。
正反射式のCD5-L25なら繰返精度0.02μmで測定が可能。アニール深さを正確に制御することができます。
使用製品
高性能マルチレーザ変位センサ
CD5シリーズ
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