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セミナー情報(経営層向け)

無料テクニカルセミナーのお申込は終了いたしました。
たくさんのご応募、誠にありがとうございました。
〜トップセミナー2010〜「好業績経営の極意」2010年7月20日(火)15時〜18時(開催地:東京)参加費無料

このたびのオプテックス・エフエー(株)東京営業所ならびに日本エフ・エーシステム(株)本社の移転を記念いたしまして、お客様の業務に役立つ無料セミナーを開催します。
ぜひお気軽にご参加ください!

賞味期限などの誤表記が食品事故の約1/4を占めるなかで、ますます高まる印字検査へのニーズ。 食品業界でリコールを未然に防ぐためには、画像センサによる印字検査が欠かせません。 当セミナーでは印字検査の現状と対策を知るとともに、実機を操作いただき、概要から実践まで幅広く印字検査をご紹介します。レーザ光源を用いた「光切断法」により、製品の表面形状を定量的に判定し、欠陥を検出する3D外観検査。 日本エフ・エーシステムの新製品・3D画像検査装置「3D-Eye35000シリーズ」をご紹介しながら、 3D外観検査による原理と実施例を分かりやすくご紹介していきます。
開催場所
オプテックス・エフエー株式会社 東京営業所
日本エフ・エーシステム株式会社 本社
地図はこちらをご覧ください。住所 東京都品川区西五反田4-32-1 東京日産西五反田ビル10F
最寄りの駅  東急目黒線不動前駅から徒歩1分   JR山手線五反田駅から徒歩11分JR山手線目黒駅から徒歩12分
定員
各回16名
※定員に達し次第、締め切らせていただきますので満員の際はご了承ください。
※キャンセルされる場合は3日前までにお知らせください。
参加費
無料
終了セミナー
・2010/7 経営層向けセミナー「好業績経営の極意」レポート
・2010/7 経営層向けセミナー「好業績経営の極意」ご案内
セミナーに関するご質問・お問い合わせは
セミナー係(オプテックス・エフエー京都本社):TEL075-325-2920 または E-メール
オプテックス・エフエー株式会社 日本エフ・エー システム株式会社(JFAS)