センサ・LED照明のオプテックス・エフエー（OPTEX FA）：展示会レポート：第3回高機能フィルム技術展

展示会名

第3回高機能フィルム技術展

日　　時

2012年4月11日(水)〜13日(金)

会　　場

東京ビッグサイト

「高機能フィルム技術展」は、高機能フィルムやシート、薄膜などに関するあらゆる研究・製造設備、材料、加工技術が一堂に会する世界最大の専門技術展です。
オプテックス・エフエーと日本エフ・エーシステムは当展示会にて、フィルム・シート材等の欠陥検査装置やフィルム厚み測定が可能な産業用センサを出展しました。

オプテックス・エフエー株式会社

フィルム厚み測定

高機能フィルム技術展では、フィルムの厚み測定装置が多く出展されますが、その中でも、当社の変位センサは断トツの低価格。標準価格25万円(税別)のレーザ変位センサCD5-LW25を2台使用することで、50万円台でフィルムの厚み計測を実現しました。

透明フィルムの1枚/2枚判別

波長1.45μmのフィルムに吸収されやすい波長の赤外LEDを採用したファイバアンプD3IFと専用透過型ファイバユニットNF-TW01で透明フィルム1枚/2枚判別のデモを行いました。フィルムやシート材が透明であっても、1枚/2枚を確実に判別できます。

日本エフ・エーシステム株式会社

取付スペース世界最小のフィルム検査

フィルム検査装置Film-Eyeスキャナーでフィルムの欠陥検査デモを行いました。FAXやスキャナーと同じロッドレンズを採用しているので、フィルムとの距離10㎜！その設置スペースに驚きの声が上がりました。

透明電極検査デモ

フィルム検査装置Film-Eye350シリーズの高精細タイプで透明電極のパターン検査デモを行いました。高速ラインカメラと専用照明により、透明フィルムに印刷されたパターンを撮影します。スマートフォン等のタッチパネルに使用される透明電極は特に注目度が高く、たくさんの方々が足を止めてご覧になりました。

膜厚分布計測デモ

卓上3D形状計測装置3D-Eyeスキャナーで塗布された膜の厚み計測デモを行いました。塗布膜の厚み計測には3次元計測が最適です。高さデータを取得でき、体積の計測が可能なため、膜厚分布を高精度に計測検査できます。また3D-Eyeスキャナーは、他装置では難しい任意位置の各種データを取得できます。

製品・技術セミナー

「フィルム欠陥検査のトレンドと新方式の紹介」と題し、高機能フィルムにおける欠陥検査の動向と、スキャナー方式のフィルム検査をご紹介するセミナーを行いました。特に、Film-Eyeスキャナーの特徴であるロッドレンズの説明では、皆さん熱心に聞き入っていらっしゃいました。セミナー後には、ロールのフィルムの欠陥を検査するデモ機に人が集まりました。

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