高さ・段差判別 / 半導体

ガラス・シリコンウェハ上限検出

ガラス・シリコンウェハ上限検出

透過型サイドビューのファイバユニットを使用し、ワークなしでティーチングします。投光角:約3°と狭光芒ですので光の回り込みを最小限に抑えた設計です。

使用製品

ファイバユニット NFシリーズ 狭視界/ウェハマッピングタイプ

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