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高さ・大きさ測定 / 半導体
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チャンバ内のトレイ膨張測定
スパッタ用加熱チャンバ内のトレイの膨張度合いを、レーザ変位センサCD33-250□でガラス越しに測定します。
CD33-250□はローコストにもかかわらず、繰返精度75μmで最大400mmまで測定可能。トレイの変形を正確に測定可能です。
使用製品
C-MOSレーザ変位センサ
CD33シリーズ
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