高さ・大きさ測定 / 半導体

チャンバ内のトレイ膨張測定

チャンバ内のトレイ膨張測定

スパッタ用加熱チャンバ内のトレイの膨張度合いを、レーザ変位センサCD33-250□でガラス越しに測定します。
CD33-250□はローコストにもかかわらず、繰返精度75μmで最大400mmまで測定可能。トレイの変形を正確に測定可能です。

使用製品

C-MOSレーザ変位センサ CD33シリーズ

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