TOP
>
01
計測値が “ばらつかない” 理由。新開発イメージセンサ『ATMOS』
INDEX
TOP
01
計測値が “ばらつかない” 理由。
新開発イメージセンサ『ATMOS』
02
一目でわかる動画特集
レーザ変位センサの特長
03
ワーク表面の粗さにより発生する
測定値のバラツキに
移動分解能の対策
04
ガラスやフィルム等の透明体の測定に
透明体測定のノウハウ
01
計測値が “ばらつかない” 理由。
新開発イメージセンサ『ATMOS』
従来の変位センサは、ゴムのような黒いワークや光沢のある金属などの計測においては、計測値が安定しない(ばらつく)ことがありました。
超高精度レーザ変位センサCDXシリーズでは、その課題を解決するために、新開発のイメージセンサ「ATMOS」を採用。あらゆるワークの安定測定を可能にしたオプテックス・エフエーの新技術をご紹介します。
変位センサの計測値がばらつく理由
変位センサでは正確に距離を計測するために、受光素子上で適切な量の反射光を受光することが重要です。下図のように、光量が多すぎたり少なすぎると、受光波形の頂点位置の算出が不正確になってしまいます。
従来の変位センサは受光量を適切に調整するため、フィードバック処理を行っており、この処理中(数~数十サンプリング)は、測定値が不安定になる(ばらつく)ことがありました。
ATMOSの自動電子シャッター
こうした課題を解決するために、イメージセンサ『ATMOS』を新開発。「ATMOS」は「Auto Tuning cMOS」の略で、受光素子上に制御回路を設けることで、フィードバック動作が不要になります。
1回のサンプリングのなかで、受光量が適正な値になると、自動的に電子シャッターが切られます。つまり、受光量が飽和することなく、どのようなワークでも適切な受光波形を得られるので、フィードバック中に発生していた“ばらつき”をなくすことができました。
どのくらい違うの?≪実験≫
下記は、変位センサを金属(高反射率)から黒ゴム(低反射率)を動かしたときの測定結果です。 従来の受光素子では黒ゴムに移動した直後は光量が足りず、フィードバック処理が完了するまでは測定不能になっていましたが、『ATMOS』を搭載したCDXシリーズでは移動直後でも正確な測定が可能になっていることが分かります。
『ATMOS』を搭載したレーザ変位センサ「CDXシリーズ」
CDXシリーズは、イメージセンサ自体の受光感度も当社従来比4倍と高く、「自動電子シャッター+高感度」という組み合わせにより、ワークを選ばずに安定した測定を実現します。
超高精度レーザ変位センサ
CDXシリーズ
詳細はこちら