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光電センサ
変位センサ
IIoT
LED照明
画像センサ
非接触温度計・サーモグラフィ
その他製品
展示会出展案内:ネプコンジャパン2017 第34回エレクトロテストジャパンに出展いたします。会期:2017年1⽉18⽇(⽔) 〜 20⽇(⾦) 10:00~18:00 会場:東京ビッグサイト 東館
電⼦部品の外観検査・形状測定に最適な、
センサ・検査装置・画像処理用照明を出展。
オプテックス・エフエーは、低価格・高品質なセンサ、画像処理用LED照明と
高速・高精度の3D画像検査装置を通して、
電⼦部品の製造工程における品質向上をサポートしてまいります。
出展製品

レーザ変位センサ

CDシリーズ
変位センサ詳細

⾮接触温度計

(OPTEX)
⾮接触温度計詳細

ローコスト3D画像検査装置

3D-Eye30シリーズ
3D-Eye30シリーズ詳細

画像処理用LED照明
イーサネット対応LED照明コントローラ

OPPD-30E NEW

同軸照明

OPXシリーズなど
センシングLED照明詳細

出展製品およびデモ内容は変更する場合もございます。あらかじめご了承ください。
出展者セミナー
seminer_im_03
オプテックス・エフエー
『3Dによる外観形状計測・検査』
■日 時 / 1⽉20⽇(⾦)11:00〜12:00
■会 場 / セミナー会場 東1

エレクトロテストジャパン
主催者ホームページへ

アポイントメントシート

■案内状のご要望・お問い合わせは
京都本社   :075-325-2920 / 東京営業所 :03-5740-7851 / 海老名営業所 :046-292-7330
名古屋営業所 :052-776-7300 / 神戸営業所 :078-271-3888 / 九州営業所  :092-739-6230
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